Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination / Yoshio Waseda

• 作者： Waseda, Yoshio.
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  • Atomic-scale structure determination
• 出版： Berlin ;New York : Springer c2002
• 叢書名： Springer tracts in modern physics ,v. 179
• 主題： X-rays--Scattering. , X-ray crystallography.
• ISBN： 9783540434436 (paper)
• URL： 電子書
  
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